- Sections
- G - Physique
- G01R - Mesure des variables électriques; mesure des variables magnétiques
- G01R 31/3167 - Tests de circuits analogiques et numériques combinés
Détention brevets de la classe G01R 31/3167
Brevets de cette classe: 108
Historique des publications depuis 10 ans
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| 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Xilinx, Inc. | 4086 |
6 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
5 |
| Qualcomm Incorporated | 76576 |
4 |
| Robert Bosch GmbH | 40953 |
4 |
| Texas Instruments Incorporated | 19376 |
3 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 36809 |
3 |
| NPX B.V. | 2204 |
3 |
| Advantest Corporation | 1939 |
3 |
| Cirrus Logic, Inc. | 1719 |
3 |
| Leviton Manufacturing Co., Inc. | 844 |
3 |
| ROHDE & Schwarz GmbH & Co. KG | 1831 |
3 |
| NXP USA, Inc. | 4155 |
3 |
| Seiko Epson Corporation | 18724 |
2 |
| SK Hynix Inc. | 11030 |
2 |
| Huawei Technologies Co., Ltd. | 100781 |
2 |
| MTU America Inc. | 12 |
2 |
| Tektronix, Inc. | 636 |
2 |
| Teradyne, Inc. | 579 |
2 |
| WesternGeco L.L.C. | 570 |
2 |
| NXP B.V. | 2185 |
2 |
| Autres propriétaires | 49 |